Atomic force microscope merupakan teknik analisis permukaan material secara 3D dengan resolusi setara atomic. Karakteristik profil topografi dan morfologi penting untuk mendukung penelitian polimer, membran, thin film, dan nanomaterial. Analisis ini penting untuk para peneliti dalam bidang polimer membran, thin film, chemical vapor deposition, biologi, dan lain-lain.
UPT Laboratorium Terpadu Undip bekerjasama dengan P.T. Vanadia Utama menyelenggarakan seminar dan pelatihan “Advanced Technology of Atomic Force Microscopy for Nanotechnology“ yang dilaksanakan pada tanggal 16 Mei 2023 di UPT Laboratorium Terpadu Undip bekerjasama.
Pembicara pada Seminar dan Pelatihan ini adalah: Mr. Bryan Lim (Application and Service Senior Manager at Park System Pte Ltd Singapore), Prof. Dr. Heri Sutanto, M.Si. (Professor Materials Physics Universitas Diponegoro), dan Host adalah Ani Umoro, M.Sc. (Application Engineer PT. Vanadia Utama).
Seminar dan pelatihan tersebut meliputi teori dan praktek tentang prinsip dasar, interpretasi, dan metode dan peralatan Atomic Force Microscope (AFM) merk dan jenis Park NX10 Park Systems.
Terima kasih disampaikan kepada PT Vanadia Utama, Prof Heri Sutanto (Ketua Bidang Pengujian Fisika) dan Mas Ilham Alkian (Analis/Teknisi AFM) dan semua Panitia Penyelenggara atas support dan kerjasamanya hingga acara ini berlangsung dengan lancar.
